Sistemde güncelleme ve geliştirme çalışmaları devam etmektedir
Sistemde güncelleme ve geliştirme çalışmaları devam etmektedir
Kırıkkale de 6 ay 1 yaş arası bebeğe sahip annelere ağız diş hijyen eğitiminin ve antibakteriyel uygulamalarının bebekteki tükürük mutans seviyesi ve çürük oluşumu üzerindeki etkisinin belirlenmesi
Kırıkkale de 6 ay 1 yaş arası bebeğe sahip annelere ağız diş hijyen eğitiminin ve antibakteriyel uygulamalarının bebekteki tükürük mutans seviyesi ve çürük oluşumu üzerindeki etkisinin belirlenmesi
Kırıkkale de 6 ay 1 yaş arası bebeğe sahip annelere ağız diş hijyen eğitiminin ve antibakteriyel uygulamalarının bebekteki tükürük mutans seviyesi ve çürük oluşumu üzerindeki etkisinin belirlenmesi
P. H. ÖZVEREN, & P. Y. ERDEM (n.d.). Kırıkkale de 6 ay 1 yaş arası bebeğe sahip annelere ağız diş hijyen eğitiminin ve antibakteriyel uygulamalarının bebekteki tükürük mutans seviyesi ve çürük oluşumu üzerindeki etkisinin belirlenmesi. *5. Ulusal ve 2. Uluslararası Akdeniz Pediatri Hemşireliği Kongresi*.
Yayın bilgileri
Dergi5. Ulusal ve 2. Uluslararası Akdeniz Pediatri Hemşireliği Kongresi
Atıf verisi 14 Kasım 2026 tarihinde güncellendi.
Etkinlik: 5. Ulusal ve 2. Uluslararası Akdeniz Pediatri Hemşireliği Kongresi | Yıl: 15.11.2015 | Yazarlar: BORA GÜNEŞ NEBAHAT,ERDEM YURDAGÜL,ÖZVEREN HÜSNA,DÜLGERGİL ÇORUH TÜRKSEL
Co-authorship network among authors
Collaboration links among KKU authors of this publication.
Loading co-author network...
No co-author data
Not enough KKU author records for this publication.
Shared publications
Other publications by authors
Other academic outputs by the same KKU authors — newest first.
İlgili yayınlar yükleniyor…
İlgili yayın bulunamadı.
AI Assistant
Online
Command LibraryPick a ready command or type your own question
System architect
Tahsin BALCI
Kırıkkale University · IT Department · Programmer
KU Career Ecosystem Software development IT operations
Architect and developer of the KU Career Ecosystem. Designs and builds this system at the IT Department to present staff, publication and unit data under one roof.
