Yayın
Automatic Landmark Detection through Circular Hough Transform in Cephalometric X-rays
Bildiri
Google Scholar
Yazarlar
Atıf kopyala
P. H. M. ÜNVER (n.d.). Automatic Landmark Detection through Circular Hough Transform in Cephalometric X-rays. *10th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO)*, 583–587.
Yayın bilgileri
Dergi
10th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO)
Veri tabanı
Google Scholar
Sayfa
583 – 587
Atıf verisi 14 Kasım 2026 tarihinde güncellendi.
Anahtar kelimeler
Etkinlik: 10th International Conference on Electrical and Electronics Engineering (ELECO) | Yıl: 23.01.2018 | Yazarlar: DUMAN ELVAN,KÖKVER YUNUS,ÜNVER HALİL MURAT,ERDEM OSMAN AYHAN
Kaynak bazlı atıf
| Kaynak | Atıf |
|---|---|
| Google Scholar | 9 |
| Etkin | 0 |
Yayın metrikleri (GS / WoS / Scopus)
GS
9
Google Scholar Atıf
Yazarların diğer yayınları
Aynı KKU yazarlarının diğer akademik çıktıları — en yeniler önce.
İlgili yayınlar yükleniyor…
İlgili yayın bulunamadı.